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超聲波探傷在機車無損檢測方面的應(yīng)用

更新時間:2014-09-17      點擊次數(shù):3732

超聲波探傷作為一種重要的無損檢測技術(shù)不僅具有穿透能力強、設(shè)備簡單、使用條件和安全性好、檢測范圍廣等根本性的優(yōu)點外,而且其輸出信號是以波形的方式體現(xiàn)。使得當(dāng)前飛速發(fā)展的計算機信號處理、模式識別和人工智能等技術(shù)能被方便地應(yīng)用于檢測過程,從而提高檢測的度和可靠性。

下面介紹超聲波探傷技術(shù)在機車檢測方面的應(yīng)用:在高速鋼軌檢測中的應(yīng)用,在車輪缺陷檢測中的應(yīng)用,以及在輪輞缺陷檢測中的應(yīng)用。


1.超聲探傷技術(shù)在高速鋼軌檢測中的應(yīng)用

我國鐵路運營線路近七萬公里,而且鐵路正在向高速、重載的方向發(fā)展。超期服役的鋼軌數(shù)量很大,線路上的鋼軌在承擔(dān)繁重的運輸任務(wù)過程中,不免要產(chǎn)生各種肉眼能看見及看不見的損傷如側(cè)磨、軌頭壓潰、剝離掉塊、銹蝕、核傷、水平裂紋、垂直裂紋、周邊裂紋等。

當(dāng)被檢鋼軌內(nèi)部有一個裂紋缺陷(或其他缺陷),將超聲波探頭放在被檢鋼軌的某一表面部位(該面稱作探傷面、檢測面),探頭向被檢鋼軌發(fā)射超聲波信號,超聲波穿過界面進入被檢鋼軌內(nèi)部,在遇到缺陷和兩介質(zhì)的界面時都會有反射,反射信號被探頭接收后,通過探傷儀內(nèi)部的電路轉(zhuǎn)換,就可以把缺陷信號和底波信號形象地顯示出來,如圖4所示。根據(jù)超聲波的聲程推算,就可以輕易地將缺陷信號和底波信號區(qū)分開,然后通過超聲波試塊進行定標(biāo),就可以實現(xiàn)對鋼軌缺陷的定位和定量。

2.超聲探傷技術(shù)在車輪缺陷檢測中的應(yīng)用

輪對是車輛走行部中zui重要的部件之一,對軌道車輛輪對的檢測并準(zhǔn)確地判斷其缺陷位置一直是鐵道運輸部門非常重視的問題。該系統(tǒng)采用電磁超聲探傷技術(shù),實現(xiàn)輪對踏面的缺陷檢測,包括:踏面剝離及剝離前期檢測;踏面表面及近表面裂紋檢測。

電磁超聲探傷系統(tǒng)利用超聲表面波的脈沖反射原理進行缺陷檢測。當(dāng)輪對沿鋼軌運行到探頭位置,輪對踏面接觸探頭的瞬間,EMAT(電磁超聲探傷技術(shù))在車輪踏面表面及近表面激發(fā)出電磁超聲表面波脈沖,超聲表面波將沿踏面表面及近表面圓周以很小的損耗傳播。如圖5所示,超聲表面波在踏面雙向傳播(順時針和逆時針),沿車輪表面及近表面?zhèn)鞑?周后回到探頭位置,EMAT探頭檢測到返回的超聲表面波后形成第1次周期回波(圖5中RT波);未衰減的超聲波繼續(xù)沿踏面?zhèn)鞑?,依次形成?次、第3次周期回波,……,直到能量衰減到設(shè)備無法檢測為止。

當(dāng)車輪踏面表面及近表面有裂紋或剝離等缺陷存在時,超聲波在缺陷端面處一部分能量被反射,沿原傳播路徑返回并被探頭檢測到,形成缺陷回波(圖6中E波);另一部分能量繞過缺陷端面繼續(xù)傳播,形成周期性回波(圖6中RT波)。通過正常的周期回波(RT)與缺陷回波(E)的對比分析,可以定性分析當(dāng)前輪對的踏面缺陷狀況。

3.超聲探傷技術(shù)在輪輞缺陷檢測中的應(yīng)用

隨著我國鐵路行車速度的提高,尤其是動車組的開行給行車安全提出新的考驗,轉(zhuǎn)向架關(guān)鍵部件如輪輞、車軸、軸承等局部位置承受更大的應(yīng)力,要求檢測過程速度加快、檢測時間間隔變小、檢測范圍擴大,給鐵路無損檢測領(lǐng)域提出更高的技術(shù)要求。

根據(jù)輪輞缺陷裂紋的走向特點,將輪輞缺陷分為三類。

(1)周向缺陷:沿車輪踏面圓周方向并與踏面圓周方向平行;

(2)徑向缺陷:方向垂直踏面,與車輪直徑方向平行;

(3)軸向缺陷:輪輞內(nèi)部與車軸方向平行。

在探傷實驗中,通過在樣板輪上打平底孔、刻槽的方式形成人工缺陷模擬輪輞的實際缺陷,平底孔的直徑或刻槽的寬度與實際裂紋尺寸成當(dāng)量關(guān)系,相控陣探頭分別置于踏面(I)和輪緣內(nèi)側(cè)(II)進行掃查,樣板輪工缺陷如圖7所示,缺陷①為距輪緣頂端40mm且垂直輪輞側(cè)面φ3mm深30mm的平底孔;缺陷②為距踏面10mm垂直輪輞側(cè)面φ3mm深30mm的平底孔;缺陷③為距踏面50mm垂直輪輞側(cè)面φ3mm深90mm的平底孔;缺陷④為輪輞與輪輻交接區(qū)域,朝踏面方向φ3mm、孔底距踏面40mm的平底孔;缺陷⑤為輪緣根部靠踏面?zhèn)?mm深周向刻槽,槽寬小于等于2mm。根據(jù)超聲檢測脈沖回波反射的特點,周向缺陷采用縱波相控陣直探頭從踏面進行掃查;徑向缺陷采用縱波相控陣直探頭在輪緣內(nèi)側(cè)面進行掃查;軸向缺陷采用縱波相控陣直探頭、橫波相控陣斜探頭均能掃查到。

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